关于

暂无简介。

研究焦点

主要成就

2
H 指数
2
论文
12
总引用数
6
篇均引用
🏆 最高被引论文
A new probing system for the in-circuit test of a PCB
8 次引用 · 2002
📈 最高产年份: 2002 (1 论文)
🤝 主要合作者: 3
🏛 所属机构: Korea Advanced Institute of Science and Technology, Samsung (South Korea)

代表论文

  1. 1
  2. 2

主要合作者

尚未生成