论文数

4

总引用数

113

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关于

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研究焦点

主要成就

3
H 指数
4
论文
113
总引用数
28
篇均引用
🏆 最高被引论文
A Novel Method Based on Deep Convolutional Neural Networks for Wafer Semiconductor Surface Defect Inspection
85 次引用 · 2020
📈 最高产年份: 2009 (2 论文)
🤝 主要合作者: 11
🏛 所属机构: China University of Geosciences

代表论文

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主要合作者

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