利用力控扫描离子电导显微镜量化局部电接口

Wang H, Shi H, Tang S, Wang D, Yu P, Su C, Liu L

摘要

该论文介绍了一种利用力控扫描离子电导显微镜来量化局部电接口的方法。通过精确控制探针与样品之间的力，实现了对电接口特性的高分辨率测量。

scanning ion conductance microscopyforce controlelectrical interfacelocalized measurement

PERCEPTION

📊 22,245 引用

1995

PERCEPTION

📊 14,348 引用

Andreas Geiger, P Lenz, R. Urtasun

2012

PERCEPTION

开放获取📊 9,777 引用

Martı́n Abadi, Ashish Agarwal, Paul Barham 等 20 位作者

2016

PERCEPTION

📊 9,681 引用

Andreas Geiger, Philip Lenz, Christoph Stiller 等 4 位作者

2013